XW-5000型線紋尺自動檢定裝置，是以敞開式光柵為測量標(biāo)準(zhǔn)的精密移動坐標(biāo)測量校準(zhǔn)系統(tǒng)。主要用于因瓦水準(zhǔn)標(biāo)尺、普通水準(zhǔn)標(biāo)尺等米間隔平均值、分米分劃誤差、厘米分劃誤差的檢定與校準(zhǔn)，還可用于鋼卷尺和鋼直尺的檢定。
校準(zhǔn)操作時，只需裝夾好被檢線紋尺，在電腦顯示的軟件界面中設(shè)置好相關(guān)參數(shù)，然后點(diǎn)擊“開始檢測”按鈕，檢測裝置自動對被檢對象進(jìn)行檢測。 整個檢測過程機(jī)器視覺軟件自動讀取刻線示值誤差，自動計算相關(guān)數(shù)據(jù)，自動根據(jù)相關(guān)檢定規(guī)程判定結(jié)果，檢測全程無需人工參與。檢測所得數(shù)據(jù)、結(jié)果保存在電腦數(shù)據(jù)庫，可打印原始校準(zhǔn)記錄及校準(zhǔn)證書。 該裝置自動化程度高，操作簡便，重復(fù)性好，工作效率高，適合檢測工作量大的計量部門及線紋尺生產(chǎn)廠家使用。
結(jié)構(gòu)組成及特點(diǎn)
XW-5000型線紋尺自動檢定裝置由大理石底座、高精度直線導(dǎo)軌、敞開式光柵尺測量系統(tǒng)、直線電機(jī)驅(qū)動控制系統(tǒng)、圖像采集系統(tǒng)、測量軟件組成。 1.大理石基座：尺寸5300mm×350mm×350mm，采用整條優(yōu)質(zhì)大理石精密加工而成，具有硬度高、耐磨、穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。非精度面拋光，顏色美觀。 2.高精度直線導(dǎo)軌：采用整條5200mm精密級高精度滾珠直線導(dǎo)軌，精度高、穩(wěn)定性好。 3.敞開式光柵尺系統(tǒng)：采用敞開式增量型光柵尺和讀數(shù)頭，20℃時的精度為±5μm/m,獨(dú)立膨脹系數(shù)（α = 10.6μm/m/℃）。 4.直線電機(jī)驅(qū)動控制：采用磁懸浮驅(qū)動，零間隙和柔度，高剛性，高定位精度，速度高，免維護(hù)。 5.圖像采集系統(tǒng)：采用工業(yè)級CCD工業(yè)相機(jī)，800萬像素，USB3.0高速接口，自動變焦功能；0.7-4.5X連續(xù)變倍顯微鏡頭；3D打印無影光源，實(shí)現(xiàn)精確瞄準(zhǔn)，邊緣成像對比度高。 6.測量軟件：十字線檢測，自由編程，可對檢測點(diǎn)進(jìn)行任意設(shè)置，并實(shí)現(xiàn)鋼卷尺、鋼直尺、因瓦條碼水準(zhǔn)標(biāo)尺、銦瓦水準(zhǔn)標(biāo)尺、普通水準(zhǔn)標(biāo)尺等測量數(shù)據(jù)的自動采集、打印結(jié)果。
技術(shù)參考
有效行程：0～5000mm；
示值誤差：±（0.03+0.02L）mm L單位：米；
重 復(fù) 性：≤15μm；
分 辨 力：1μm；
定位精度：≤1μm；
檢測速度：平均2秒/每點(diǎn)；
外形尺寸： 5300mm×350mm×350mm；
總 重 量：2噸；
溫度要求：20±5℃，溫度變化為1℃/H。
濕度要求：≤60%（測量精度較高時≤50%）。
電源狀況：220V±10%，50 Hz±5%，電流10A，具有獨(dú)立專用接地線且接地電阻≤4Ω。
振動要求：大振動5×10-3m/s2相當(dāng)于頻率5Hz時振幅應(yīng)小于5μm。
粉塵要求：測量環(huán)境無大顆粒粉塵，保證儀器導(dǎo)軌和工作臺清潔無污物。
產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)配置清單
XW-5000型線紋尺全自動檢定裝置主機(jī)
（含大理石檢定臺、圖像采集系統(tǒng)、精密位移機(jī)構(gòu)）； 1臺
XW-5000型鋼直尺全自動檢定裝置專用測控箱 1臺
臺式計算機(jī)（CPU：Intel雙核，內(nèi)存：8G；顯示器：19.5寸） 1臺
激光打印機(jī)（惠普） 1臺
XW-5000型線紋尺全自動檢定軟件 1套
